電子高加速壽命試驗箱實驗
廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。
電子高加速壽命試驗箱實驗的用途
適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁 鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品.
電子高加速壽命試驗箱實驗的型號:型號 PCT-25 PCT-35 PCT-45 PCT-65
內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm
Φ250×300 Φ300×450 Φ450×500 Φ650×600
外箱尺寸(W×H×D)mm
500×500×700 580×850×650 800×750×900 950×900×1100
電子高加速壽命試驗箱實驗的圖片: